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25.08.2003 |
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| GÖPEL electronic GmbH: |
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| J. Kokott: "Untersuchungen zum Einsatz von AOI-Systemen für die Lötstellenprüfung an bleifrei gelöteten Bauelementen" |
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| Sicheres Testen mittels PARL-Algorithmus |
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| Zum bleifreien Löten geht der Trend in der Fertigung elektronischer Baugruppen. Dabei stellt die Prüfung der Lötstellen mit AOI-Systemen bedingt durch deren optische Spezifikation höhere Anforderungen an den Erkennungsalgorithmus als bei der Prüfung bleihaltig gelöteter Baugruppen. Nachfolgend werden Grundlagen zur Anordnung optischer Komponenten in AOI-Systemen sowie zu deren Auswertealgorithmen dargestellt. Der Einsatz von zwei unterschiedlichen Erkennungs-verfahren wurde anhand von typischen Baugruppen getestet und deren Prüfergebnisse gegenübergestellt. Vollbeitrag als PDF |
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