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<H1>www.duv24.net : Dr. S. Becker: "Testhandling von Mikrosystemen und Sensoren"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>25.08.2003</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>ic-automation GmbH:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Dr. S. Becker: "Testhandling von Mikrosystemen und Sensoren"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Flexibler Testhandler ersetzt Individuallösungen zum Funktionstest von Mikrosystemen </TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Mikrosysteme und intelligente Sensoren besitzen vielfältige Funktionen und Bauformen und fordern daher neue, innovative Lösungen für das Testhandling. Ein vollständiger Funktionstest, der nicht nur elektrische, sondern auch physikalische Eigenschaften der Mikrosysteme und Sensoren umfasst, beansprucht entsprechende Platzverhältnisse und Flexibilität für den automatisierten Testablauf. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/testk2004/tk4c0402.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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