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<H1>www.duv24.net : G. Aldrich: "Kostenkontrolle beim IC-Produktionstest"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>19.07.2004</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Mentor Graphics :</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>G. Aldrich: "Kostenkontrolle beim IC-Produktionstest"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Design-for-Test-Methodik für Nanometer-Prozesstechnologien</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Scan- und ‚Automatic Test Pattern Generation‘-Techniken (ATPG) sind seit mehr als einem Jahrzehnt die Standardmethoden für Tests an Halbleiterschaltungen. Mit der Einführung von Nanometer-Prozesstechnologien in der Branche müssen diese Standard-Testmethoden neu überdacht und aktualisiert werden. Steigende Gatterzahlen und Testkosten und die Notwendigkeit zur Verbesserung der Qualität und Effektivität von Produktionstestprogrammen werden zu wesentlichen Änderungen bei den Testmethoden führen. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/testk2004/tk4c0302.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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