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<H1>www.duv24.net : H. Lam: "Anforderungen an Testwerkzeuge der nächsten Generation"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>25.08.2003</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Credence Systems Europe GmbH:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>H. Lam: "Anforderungen an Testwerkzeuge der nächsten Generation"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>ATE-Plattform-neutrale, zyklische Timing- und Pattern-Daten sind Voraussetzung zur Bewältigung aktueller Designs</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Für viele komplexe Halbleiterbauelemente sind die Testkosten auf knapp 50 Prozent der gesamten Herstellkosten gestiegen. Ein großer Anteil der Testkosten entsteht durch den hohen Zeit- und Arbeitsaufwand, den die Testprogrammerstellung beansprucht. Es gibt viele zeitsparende Methoden und Testentwicklungswerkzeuge - sowohl kundeneigene als auch kommerzielle -, um die Funktions- und Scanpattern in Testprogramme für speziell ausgewählte automatische Testsystemplattformen zu übersetzen. Dennoch versagen diese Werkzeuge und Methoden immer mehr im Hinblick auf die steigende Integrationsdichte und -komplexität der Bauelemente und die neuen Anforderungen in der Produktion. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/testk2004/tk4c0301.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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