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<H1>www.duv24.net : B. Opfer: "Kombinierter Flying-Probe / Boundary-Scan-Test"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>25.08.2003</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>ITOCHU Sys Tech GmbH:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>B. Opfer: "Kombinierter Flying-Probe / Boundary-Scan-Test"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Automatische Filterung redundanter Testschritte reduziert Testkosten</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Die auch in der Halbleiterindustrie zunehmende Globalisierung erfordert die immer schnellere Produktion immer komplexerer Leiterplatten. Der daraus resultierende Zeit- und Kostendruck hat zu verschiedenen Teststufen geführt. Diese sollen gewährleisten, dass Fehler nicht erst nach erfolgter Auslieferung des kompletten Fertigungsloses, sondern bereits möglichst frühzeitig im Produktionsprozess identifiziert und behoben werden. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/testk2004/tk4c0201.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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