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15.01.2004 |
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| Keithley Instruments GmbH: |
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| C. Cimino: "Testmöglichkeiten für aktive Elemente moderner Flachbildschirme" |
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| Testsysteme für die LCD-,OLED- und LEP-Anwendungen |
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| Der SMU-Vorverstärker lässt sich direkt im Prober montieren |
Die Charakterisierung der aktiven Elemente in Flachbildschirmen ist vergleichbar mit dem Test anderer Halbleiterbauteile. Um allerdings den Durchsatz und die Genauigkeit bei LCD-, OLED- und LEP-Anwendungen zu optimieren, sind für die Parameter-Testsysteme, die Verkabelung und die Testmethodik gewisse Modifikationen erforderlich. Vollbeitrag als PDF |
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