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<H1>www.duv24.net : B. Gehlert: "Empfindliche Kontaktwiderstandsmessung"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>25.08.2003</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Heraeus Holding GmbH:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>B. Gehlert: "Empfindliche Kontaktwiderstandsmessung"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Erfassung dünner Fremdschichten an Kontaktteilen</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Mechanische oder elektromechanische Schaltkontakte und Steckverbindersysteme müssen im Zuge der Weiterentwicklung von Elektroniksystemen immer größeren Ansprüchen genügen. Der Kontaktwiderstand soll möglichst niedrig sein und eine große Langzeitstabilität aufweisen. Der Wert ist ein wichtiges Maß für den Zustand der Oberfläche eines Kontaktbauteils. Aus der Theorie sind Formeln bekannt, mit denen die Größenordnung der Kontaktwiderstandsparameter wie Fremd- schicht- und Engewiderstand abgeschätzt werden kann [1]. In der Praxis kann aber auf die Messung des Kontaktwiderstands, z. B. innerhalb der laufen- den Fertigung oder Schadensanalyse, nicht verzichtet werden. Sie ist ein aussagekräftiges Hilfsmittel zur Qualitätsbeurteilung metallischer Oberflächen. Die Empfindlichkeit des Messsystems muss den Anforderungen entsprechen, um kontaktschädigende Oberflächenbelegungen zu erfassen. Die vorliegende Arbeit beschreibt die Korrelation von Ergebnissen der Kontaktwiderstandsmessungen und Auger-Oberflächenanalyse [2]. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/testk2004/tk4b0105.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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