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<H1>www.duv24.net : Kautzner, Norbert: "AOI-Systeme intelligent einsetzen"</H1>
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Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2002</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Kautzner, Norbert: "AOI-Systeme intelligent einsetzen"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Scannersysteme im Vergleich zu Systemen mit Kameras</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent><font color=#0000FF>erschienen im <font color=#FF7F00>TEST KOMPENDIUM 2003 </font>(ISBN 3-934698-08-5) S. 168<br><BR><ul>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem<BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><br>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br></font><BR><b>Einleitung</b><BR><BR>Seitdem der Preisdruck und die Qualitätsanforderungen in der Elektronikfertigung immer größer werden, begegnet man immer häufiger den Forderungen nach Kostenreduzierung, Prozessoptimierung, kurzen Durchlaufzeiten usw. gepaart mit gestiegenen Ansprüchen an die Qualität, Rückverfolgbarkeit und Kontrollierbarkeit der Produktion. Durch die immer schwieriger werdenden Zugriffsmöglichkeiten für den elektrischen Test, verzeichnen ‚AOI-Systeme‘ seit einigen Jahren einen wachsenden Anteil am ATE-Markt.Dabei gewinnen neuerdings immer mehr die Systeme mit Scannereinheit an Bedeutung. Gründe dafür sind die Auswertung in Farbe und die, gegenüber Kamerasystemen, um bis zu 50 % niedrigeren Investitionskosten.Werden diese Systeme intelligent in Kombination mit anderen Testsystemen eingesetzt, führt das zu erheblichen Kosteneinsparungen durch Wegfall redundanter Tests, ohne Qualitätsverluste hinnehmen zu müssen. Dieser Artikel beleuchtet die Möglichkeiten, die Scannersysteme im Vergleich zu den Systemen mit Kameras bieten und erläutert wie sie in der Fertigung eingesetzt werden können. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/TESTK_2003/TK3C0503.pdf" target="_blank"> weiter... </a><BR><BR><BR><b>Zusammenfassung</b><BR><BR>AOI-Systeme mit Scanner-Einheit nehmen aufgrund ihrer Vorteile gegenüber Systemen mit Kameras einen immer größeren Marktanteil bei der optischen Inspektion von Leiterplatten ein. Während die Pseudofehlerrate durch die Farbauswertung sehr gering ist und bei der Lotpastenkontrolle sogar gegen Null geht, werden echte Fehler zuverlässig erkannt. Zudem zeichnen sie sich durch eine wesentlich höhere Prüfgeschwindigkeit aus, da die Verfahrwege für die Kameras wegfallen. Es handelt sich um robuste Systeme, die durch ein geschlossenes Gehäuse gegen Verschmutzungen geschützt sind. Sie zeichnen sich nicht nur durch geringe Investitionskosten, sondern auch durch minimale Folgekosten aus. Die Vorzüge lassen sich jedoch erst in Verbindung mit der richtigen Teststrategie voll ausschöpfen. Diese Strategie besteht in einer völlig neuen Art von Test, bei dem AOI in Verbindung mit einem Flying-Probe-Tester zum Einsatz kommt und durch selektive Tests für enorme Testzeiteinsparung sorgt. <br><BR><a name="toolbox"></a><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')">Ja, ich möchte das TEST KOMPENDIUM 2004 kostenfrei Probelesen</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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