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<H1>www.duv24.net : Fischer, Hermann: "Delay-Fault-Test"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2002</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Motorola Semiconductor Products Sector:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Fischer, Hermann: "Delay-Fault-Test"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>At-Speed-Scantest von Integrierten Schaltungen</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent><font color=#0000FF>erschienen im <font color=#FF7F00>TEST KOMPENDIUM 2003 </font>(ISBN 3-934698-08-5) S. 160<br><BR><ul>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem<BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><br>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br></font><BR><b>Einleitung</b><BR><BR>Geschwindigkeit und Miniaturisierung von Integrierten Schaltungen sind die treibenden Kräfte der Halbleiterbranche. Immer niedrigere Versorgungsspannungen sowie kleinere Transistorstrukturen und immer kürzere Interconnect-Leitungen resultieren zwar in schnelleren Schaltzeiten, erhöhen aber auch die Chance von Defekten. Leider werden viele erst beim Einsatz des ICs in der Applikation entdeckt, wenn die ICs nicht ‚at-speed’ getestet wurden.Thema dieses Beitrags ist die Bewertung von Stärken und Schwächen verschiedener Tests sowie die Vorstellung des Delay-Fault-Test, der dynamische Fehler von Highspeed-ICs aufdeckt. Darüber hinaus erklärt der Autor, wie eine Implementierung auf einem VLSITester funktioniert. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/TESTK_2003/TK3C0403.pdf" target="_blank"> weiter... </a><BR><BR><BR><b>Zusammenfassung</b><BR><BR>Ein 140 MHz-Audioprozessor-IC wurde Delay- Fault-Test-kompatibel entwickelt und die erforderlichen At-Speed-Testvektoren wurden mit einem ATPG-Tool erzeugt. Für einen 100-MHz-Tester wurde ein spezielles Loadboard entworfen, um die Testvektoren mit über 140 MHz ablaufen lassen zu können. Prototypen konnten innerhalb weniger Tage auf dem Tester verifiziert werden. Testprogramm und Loadboard werden erfolgreich in der Produktion eingesetzt. <br><BR><a name="toolbox"></a><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')">Ja, ich möchte das TEST KOMPENDIUM 2004 kostenfrei Probelesen</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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