Wollitzer, M. : "Neue Prüfspitzentechnologie ermöglicht Impedanz kontrollierte On-Wafer-Tests"

<BODY> <H1>www.duv24.net : Wollitzer, M. : "Neue Prüfspitzentechnologie ermöglicht Impedanz kontrollierte On-Wafer-Tests"</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Redaktion > <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2002</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>ROSENBERGER HOCHFREQUENZTECHNIK:</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Wollitzer, M. : "Neue Prüfspitzentechnologie ermöglicht Impedanz kontrollierte On-Wafer-Tests"</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Zuverlässiger Messen mit der /Z/-Probe</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent><font color=#0000FF>erschienen im <font color=#FF7F00>TEST KOMPENDIUM 2003 </font>(ISBN 3-934698-08-5) S. 157<br><BR><ul>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem<BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><br>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br></font><BR><b>Einleitung</b><BR><BR>Die Entwicklung von koaxialen und planaren Messsystemen für die HF- Mess- und Prüftechnik erfordert ein gänzlich anderes Konzept als in der DC- oder Starkstromtechnik. Mit zunehmender Frequenz erfolgt die Stromleitung nicht mehr über die Querschnitte der Leiter, sondern es erfolgt die Energieausbreitung an den Oberflächen der Leiter oder im elektromagnetischen Feld.Dies ist auch der Grund,warum in der Fertigung von HF-Bauteilen wie Kabel,Wellenleiter und Prüfspitzen höchste Genauigkeit und eine hohe Oberflächengüte die Hautrolle spielen. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/TESTK_2003/TK3C0402.pdf" target="_blank"> weiter... </a><BR><BR><BR><b>Zusammenfassung</b><BR><BR>Die neue /Z/-Probe besitzt nicht nur hervorragende HF-elektrische Eigenschaften, sondern stellt eine neue Qualität in der Handhabung und in der Robustheit dar. Reduzierte Kontaktwege und eine exakt de- finierte Federkraft führt zu längerer Lebensdauer und zuverlässigerer, wiederholbarer Messung. <br><BR><a name="toolbox"></a><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')">Ja, ich möchte das TEST KOMPENDIUM 2004 kostenfrei Probelesen</a></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>