erschienen im TEST KOMPENDIUM 2003 (ISBN 3-934698-08-5) S. 134
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Einleitung
In vielen Integrierten Schaltungen sind A/D- oder D/A-Wandler implementiert, für die oft ein dynamischer Test auf einem Mixed-Signal-Tester nicht erforderlich ist.Thema dieses Beitrags ist der schnelle statische Test eines 10-bit- A/D- und eines 10-bit-D/A-Wandlers auf einem Digitaltester. weiter...
Zusammenfassung
Aus der Auswertung von Messergebnissen in der Vorserie und Rückmeldungen von Applikationsingenieuren ergab sich, dass ein statischer A/D- und D/A-Wandler-Test mit einer rampenförmigen Eingangsfunktion eine Alternative zum Mixed-Signal-Test sein kann, falls der Wandler nicht ‚am Rande‘ der Spezifikation betrieben wird. Dies ist z. B. dann der Fall, wenn der Wandler eine höhere Auflösung hat, als in der Applikation verlangt wird (z. B. 10-Bit D/A-Wandler in einer 9-bit-Video-Applikation) und nicht mit der maximal spezifizierten Taktrate eingesetzt wird (z.B. 40MHz-Wandler in einer 28,9 MHz- Applikation). Die vorgegebene Testzeit von 500 ms konnte in beiden Fällen unterboten werden, sodass die geschilderten Messmethoden im Produktionstest eingesetzt werden können. Zur weiteren Testzeitoptimierung bei D/A-Wandlern wird nun die Reduzierung der Messpunkte auf der Kennlinie untersucht [3].
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