Tietze, Herbert : "Pin-genaue und grafische Fehleranalyse"

<BODY> <H1>www.duv24.net : Tietze, Herbert : "Pin-genaue und grafische Fehleranalyse"</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Redaktion > <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2002</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>GÖPEL electronic GmbH:</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Tietze, Herbert : "Pin-genaue und grafische Fehleranalyse"</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Boundary-Scan von elektronischen Baugruppen</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent><font color=#0000FF>erschienen im <font color=#FF7F00>TEST KOMPENDIUM 2003 </font>(ISBN 3-934698-08-5) S. 121<br><BR><ul>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem<BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><br>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br></font><BR><b>Einleitung</b><BR><BR>Die wachsenden Packungsdichten bei ICs führen zu ständig kleineren PIN- Abständen. Die erstrebte Prüfabdeckung durch herkömmliche Testverfahren sicherzustellen wird demnach zu einem echten Problem.Mittlerweile gibt es µBGAs mit über 1.500 Balls (Kontakten) – d. h. die Elektronikfertigung steht auch vor dem Problem, einen größtmöglichen Test-Access auf der Baugruppe zu gewährleisten, bei gleichzeitiger Pingenauer Fehleranalyse.Dieser Artikel beschreibt das ‚Boundary-Scan‘-Verfahren als einen Lösungsansatz,wobei nicht nur Hilfe angeboten, sondern ebenso versucht wird, das Produkt ‚Kundenbaugruppe‘ als Gesamtes zu betrachten. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/TESTK_2003/TK3C0102.pdf" target="_blank"> weiter... </a><BR><BR><BR><b>Zusammenfassung</b><BR><BR>Boundary-Scan ist bereits heute und wohl noch stärker in der Zukunft ein sehr leistungsstarkes Werkzeug, das dem Elektronikfertiger seine Testprobleme abnehmen kann. Neben dem Testen/Programmieren von Baugruppen wird es immer wichtiger, eine sinnvolle Systemunterstützung angeboten zu bekommen. Nicht allein der schnelle ‚Go/ NoGo‘-Test hilft im Hinblick auf Produktqualität und Kostenersparnis. Auch die Anforderung ‚genau (Position auf der Baugruppe) und schnell‘ den Fehler zu finden – plus deren Umsetzung – reduziert letztendlich die Kosten im Herstellungsprozess. Eine durchdachte Test- und Reparaturstrategie, die flexibel, schnell und anwenderfreundlich dem Bedienpersonal die Fertigungsfehler anzuzeigen vermag, stellt einen nicht zu unterschätzenden Kostenfaktor dar. Hersteller von Testsystemen, die ihre Marktposition festigen oder erhöhen wollen, können dies nur, indem sie ihren Kunden die Lösung anbieten, die zum einen die ‚reine‘ Testlösung ist, aber ebenso eine vereinfachte Handhabung bei gleichzeitiger Verringerung der Kosten bieten kann. <br><BR><a name="toolbox"></a><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')">Ja, ich möchte das TEST KOMPENDIUM 2004 kostenfrei Probelesen</a></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>