Möhr, Diethard E.C.: "Messunsicherheit bei EMV-Messungen im Labor, in Anlagen und Installationen"

<BODY> <H1>www.duv24.net : Möhr, Diethard E.C.: "Messunsicherheit bei EMV-Messungen im Labor, in Anlagen und Installationen"</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Redaktion > <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2002</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Siemens AG, Industrial Solutions and Services :</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Möhr, Diethard E.C.: "Messunsicherheit bei EMV-Messungen im Labor, in Anlagen und Installationen"</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Praktische Hinweise und Empfehlungen der neuen CISPR 16-4 zur Reduzierung der Messunsicherheit</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent><font color=#0000FF>erschienen im <font color=#FF7F00>TEST KOMPENDIUM 2003 </font>(ISBN 3-934698-08-5) S. 44<br><BR><ul>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem<BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><br>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br></font><BR><b>Einleitung</b><BR><BR>Anfang Mai des Jahres 2002 ist mit der neuen IEC/Publikation CISPR 16-4 erstmals eine internationale Norm verabschiedet worden, die das Thema Messunsicherheit für das Gebiet der EMV/Messungen umfassend behandelt. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/TESTK_2003/TK3A0204.pdf" target="_blank"> weiter... </a><BR><BR><BR><b>Zusammenfassung</b><BR><BR>Dem Fachmann ist klar, dass die aufgeführten Unsicherheitsquellen nicht die einzigen aus der EMV-Messeinrichtung herrührenden Quellen sind, die das Messergebnis einer EMV-Messung beeinflussen können, aber es handelt sich um wesentliche Unsicherheitsquellen. Es ist schwierig genug, diese Quellen richtig zu erfassen.<BR>Die neue CISPR 16-4 gibt im Anhang A umfangreiche Informationen zum Hintergrund der Werte, die in Tabelle 1 für Ucispr angegeben sind. Es ist jedem EMV Labor und Messteam empfohlen, diese Hintergründe genau zu kennen, denn nur so kann man auf weitere Probleme im eigenen Labor oder bei Messungen vor Ort oder in Anlagen und Installationen schließen. <br><BR><a name="toolbox"></a><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')">Ja, ich möchte das TEST KOMPENDIUM 2004 kostenfrei Probelesen</a></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>