Deutschmann, Bernd: "EMV-Charakterisierung von ICs"

<BODY> <H1>www.duv24.net : Deutschmann, Bernd: "EMV-Charakterisierung von ICs"</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Redaktion > <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2002</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>austriamicrosystems AG:</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Deutschmann, Bernd: "EMV-Charakterisierung von ICs"</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Die neuen Normen zur Charakterisierung der EMV integrierter Schaltungen</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent><font color=#0000FF>erschienen im <font color=#FF7F00>TEST KOMPENDIUM 2003 </font>(ISBN 3-934698-08-5) S. 35<br><BR><ul>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem<BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><br>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br></font><BR><b>Einleitung</b><BR><BR>Dieser Beitrag behandelt das Thema der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) integrierter Schaltungen. Auf Grund der Tatsache, dass integrierte Schaltungen sehr oft als Ursache für Störungen in elektronischen Geräten gesehen werden, wird hierbei besonderer Wert auf die neuen Normen IEC61967 und IEC62132 zur Charakterisierung der EMV auf IC-Ebene gelegt. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/TESTK_2003/TK3A0201.pdf" target="_blank"> weiter... </a><BR><BR><BR><b>Zusammenfassung</b><BR><BR>Die elektromagnetischeVerträglichkeit(EMV) wurde in den vergangenen Jahren immer wichtiger. Nicht nur für Geräte und Systeme stehen uns heutzutage zahlreiche Normen zur Bewertung der EMV zur Verfügung, sondern neuerdings auch für integrierte Schaltungen. Hier gibt es zur Zeit zwei Normen mit deren Hilfe eine EMV-Charakterisierung von ICs durchgeführt werden kann. Es wird ein Überblick über die verschiedenen, in den zwei Normen beschriebenen Messmethoden gegeben. Der Anwender kann sich in Abhängigkeit vom Leistungsumfang und den verschiedenen Einsatzgebieten des zu messenden ICs für jene Messmethode entscheiden, die am besten zu den Anforderungen seines ICs passt. Da zwischen den verschiedenen Messmethoden doch erhebliche Unterschiede bestehen, ist aber ein direkter Vergleich zwischen den Messergebnissen, die mit unterschiedlichen Messmethoden aufgenommen wurden, schwierig bis unmöglich. <br><BR><a name="toolbox"></a><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')">Ja, ich möchte das TEST KOMPENDIUM 2004 kostenfrei Probelesen</a></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>