Opfer, Boris: ' Automatische Prüfprogrammgenerierung für Prüfsysteme'

<BODY> <H1>www.duv24.net : Opfer, Boris: ' Automatische Prüfprogrammgenerierung für Prüfsysteme'</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Redaktion > <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.11.2001</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>ITOCHU Sys Tech GmbH:</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Opfer, Boris: ' Automatische Prüfprogrammgenerierung für Prüfsysteme'</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Umstellung von manueller Generierung auf Net(z)Test-basiertes Verfahren</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Erschienen im <font color=green>TEST KOMPENDIUM 2002 </font>(ISBN 3-934698-03-4)S. 170<br><br>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem <BR><ul><BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><BR>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br><BR>BORIS OPFER ist Product Manager ICT Sales<BR>and Technical Services bei<BR>ITOCHU SysTech GmbH;<BR>Heerdter Landstraße 189<BR>D-40549 Düsseldorf<BR>Fon: 0211/56353460<BR>Fax:0211/56353100<BR>eMail: boris.opfer@itochu-systech.de<BR>ERHARD DETZEL ist Projektleiter für neue<BR>Prüftechnologien bei Siemens AG EWK;<BR>Östliche Rheinbrückenstraße 50<BR>D-76187 Karsruhe<BR>Fon: 07 21/5 95-50 02<BR>Fax: 07 21/5 95-28 18<BR>eMail: erhard.detzel@khe.siemens.deB<BR><BR>Nadel-zu-Nadel-Tester (Flying Probe Tester) dienen zum Lokalisieren von Fertigungsfehlern von Flachbaugruppen (Fbg). Diese Tester messen anhand der vorgegebenen Referenzwerte die Sollwerte der einzelnen Bauelemente und Netze auf ihre Eigenschaften (Netze Enthalten verschiedenste elektrische Bauelemente mit den selben Bezugspunkten). Flying Probe Tester mit vier Messnadeln (Probes), die unabhängig von einander gesetzt werden können, ermöglichen, mehrere Netze auf ihre Messparameter (Kapazität, Induktivität, Widerstände,Diodenstrecken, usw.) zu überprüfen.<BR><a name="toolbox"></a ><BR></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>