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<H1>www.duv24.net : A. Armutat: "Mehr Testeffektivität durch Instrumentenkoordination"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>16.08.2004</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Keithley Instruments GmbH:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>A. Armutat: "Mehr Testeffektivität durch Instrumentenkoordination"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Integrierte Intelligenz und Programmierbarkeit moderner Source-Measure Units steigert den Testdurchsatz</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Die Testgeschwindigkeit spielt beim Test elektronischer Komponenten eine wichtige Rolle, ist aber besonders bei kostengünstigen Bauteilen mit nur zwei oder drei Anschlusspins entscheidend. Der Beitrag beleuchtet anhand von Beispielen aus der Praxis, wie ein integriertes Testsystem, das möglichst große Anteile des Testprogramms von intelligenten Einzelinstrumenten abarbeiten lässt und nur die Koordination übernimmt kann helfen den Durchsatz nachhaltig zu erhöhen. <a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/dvtest2004/teg01515.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:13 Uhr aktualisiert</I></P>
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