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<H1>www.duv24.net : B. Opfer: "Zugriffssichere Kontaktstellen automatisch vergeben"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>22.08.2004</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>ITOCHU Sys Tech GmbH:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>B. Opfer: "Zugriffssichere Kontaktstellen automatisch vergeben"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Schnellere Programmgenerierung und Reduzierung der Scheinfehler mittels „Probe Permission“</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Seit über 15 Jahren befinden sich die Flying- Probe-Testsysteme der Firma Takaya in Europa im Einsatz. Durch vier frei verfahrbare Testnadeln bieten die Takaya-Testsysteme erhebliche Kostenvorteile bei der MDA (Manufacturing Defect Analyse) im Vergleich zu den herkömmlichen Adaptertestern. <a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/dvtest2004/teg01512.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:13 Uhr aktualisiert</I></P>
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