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<H1>www.duv24.net : T. Steinecke: "Abstrahlmessungen gemäß IEC 61967"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>28.03.2003</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Infineon Technologies AG:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>T. Steinecke: "Abstrahlmessungen gemäß IEC 61967"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Standardisierte Messverfahren für die elektromagnetische Abstrahlung von Mikrocontrollern</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent> Der folgende Beitrag wendet sich sowohl an Hersteller von Mikrocontrollern als auch an deren Anwender. Aufbauend auf der internationalen Norm IEC 61967 [1] zur Messung der elektromagnetischen Abstrahlung von aktiven elektronischen Bauteilen werden die wichtigsten Messverfahren vorgestellt. Die standardisierte Nutzung dieser Messverfahren von seiten der Halbleiterhersteller erlaubt einerseits den Vergleich verschiedener Entwicklungsstufen eines Produkts, andererseits gibt sie den Anwendern die Möglichkeit, verschiedene Konkurrenzprodukte objektiv bezüglich deren EMV-Eigenschaften zu vergleichen. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/emck_2003/ek3c0102.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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