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28.03.2003 |
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| austriamicrosystems AG: |
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| B. Deutschmann: "Messmethode zur Messung der leitungsgeführten Störemissionen von ICs" |
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| Die Probleme mit der 150- ####_####-Methode, IEC 61967-4 |
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| Ohne entsprechende Maßnahmen generieren ICs bei Taktraten im GHz-Bereich und Anstiegs- und Abfallzeiten im Picosekunden-Bereich oft sehr hohe gestrahlte und leitungsgeführte Störemissionen. Dieser Artikel behandelt die Probleme einer der neuen Messmethoden zur Charakterisierung der Störemissionen von ICs (150-.-Methode, IEC 61967-4). Bei dieser Messmethode zur Messung der leitungsgeführten Störemissionen von modernen Ausgangstreibern wird durch das 150-.-Impedanz- Anpassungsnetzwerk eine wesentlich höhere Störabstrahlung gemessen, als in Wirklichkeit vorhanden ist.Dieses Verhalten wird anhand von Simulationen gezeigt. Vollbeitrag als PDF |
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