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<H1>www.duv24.net : J. Bauer: "Möglichkeiten zur Beschleunigung der Feldstärkemessung"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>28.03.2003</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Siemens AG, Center for Quality Engineering:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>J. Bauer: "Möglichkeiten zur Beschleunigung der Feldstärkemessung"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Untersuchungen an Geräten hinsichtlich des Einflusses auf die Messgenauigkeit</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent> Das Thema ‚Reduzierung der Durchlaufzeiten‘ bei EMV-Messungen an sich ist kein neues Thema und wird schon seit vielen Jahren diskutiert und praktiziert. Es gibt dazu die verschiedensten Ansätze,wobei jedoch immer gewährleistet sein muss, dass die entsprechenden Normen (z.B. EN 55022 für Funkstörfeldstärke von 30 bis 1.000 MHz) nach denen die Prüfungen durchgeführt werden, eingehalten werden. Nicht zuletzt jedoch durch die DIN EN ISO/IEC 17025, die für alle akkreditierten Prüflabors verbindlich ist, müssen auch die Anforderungen hinsichtlich Messgenauigkeit und Reproduzierbarkeit strikter als bisher befolgt und kritisch hinterfragt werden. Die Notwendigkeit der genauen Betrachtung dieses Messverfahrens zeigen die Ergebnisse des Ringversuches der akkreditierten Prüflabore. [3] <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/emck_2003/ek3b0503.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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