<![CDATA[
<BODY>
<H1>www.duv24.net : J Held: 'Emissions-Charakterisierung von Digital-ICs'</H1>
<P> <BR>
[<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>]
</P>
<TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0>
<TR>
<TD VALIGN=top>
<TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0>
<TR>
<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>02.04.2002</TD>
</TR>
</TABLE>
</TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
</TR>
<TR>
<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Siemens AG, Industrial Solutions and Services :</TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
</TR>
<TR>
<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>J Held: 'Emissions-Charakterisierung von Digital-ICs'</TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
</TR>
<TR>
<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Genaue Bestimmung des Versorgungsstromes von ASICs oder Microcontrollern durch Spannungsmessung an Abblockkondensatoren</TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
<TD VALIGN=top> </TD>
</TR>
<TR>
<TD VALIGN=top>
<TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0>
<TR>
<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Zur Simulation der Emission von Leiterplatten die mit Komponenten bestückt sind, ist es notwendig, die Störenergie erzeugenden Komponenten, z.B. ASICs oder Mikrocontroller, emissionsmäßig zu charakterisieren. Diese Emission muss dann in ein geeignetes Modell ihrer Umgebung (Leiterplatte mit anderen passiven und/oder aktiven Bauelementen) eingebracht werden.Mit dem hier vorgestellten Verfahren ist es möglich, die Stromaufnahme eines digitalen ICs bis zu sehr hohen Frequenzen in einem realen Versorgungsnetz genau zu vermessen. Berücksichtigt wird dabei die frequenzabhängige Impedanz des Versorgungsnetzes der bestückten Leiterplatte, die für das zu vermessende IC unter Verwendung des Prinzips der induktiven Stromteilung [1] zwischen 10 MHz und 1 GHz resonanzfrei ausgelegt wird. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/EMCK_2002/C.01.01_Siemens_Held.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
</TR>
<TR>
<TD CLASS=detailQuelle> </TD>
</TR>
</TABLE>
</TD>
<TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD>
<TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD>
</TR>
<TR>
<TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD>
<TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD>
<TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD>
</TR>
</TABLE>
<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
</BODY>
]]>