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<H1>www.duv24.net : B. Deutschmann, G. Langer, G. Auderer: "Neues Burst-Messverfahren"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2004</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>austriamicrosystems AG:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>B. Deutschmann, G. Langer, G. Auderer: "Neues Burst-Messverfahren"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Charakterisierung der Störfestigkeit von ICs gegen Burst</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent>Die ständige Zunahme an Mikroelektronikkomponenten in unseren modernen elektrischen und elektronischen Geräten stellt immer höhere Anforderungen an die elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) der verwendeten integrierten Schaltkreise (ICs). Um dem wachsenden Bedarf an EMV-Charakterisierung auf IC-Ebene Rechnung zu tragen, arbeitet die IEC (International Electrotechnical Commission) gerade an der Ausarbeitung von zwei Normen zur Beurteilung der Störemission und der Störfestigkeit von ICs. Leider findet sich in der Störfestigkeitsnorm zur Zeit noch kein Messverfahren zur Beurteilung der Störfestigkeit gegen schnelle transiente Störgrößen (Burst). In diesem Beitrag wird ein neues Messverfahren, das speziell für diese Art der Störfestigkeitsprüfung von ICs entwickelt wurde, vorgestellt. <a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/dvk2004/dv4b0707.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:13 Uhr aktualisiert</I></P>
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