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<BODY> <H1>www.duv24.net : Inhalte TEST KOMPENDIUM Ausgabe 2004 - vollständig online verfügbar!</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Anbieter > <B><FONT color="#FF9900">Produktseiten</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>25.08.2003</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top ID=topSpace COLSPAN=3> <TABLE CELLSPACING=0 CELLPADDING=0 BORDER=0 WIDTH=100%> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE CELLSPACING=0 CELLPADDING=0 BORDER=0 WIDTH=100%> <TR> <TD CLASS=detailTitel VALIGN=TOP>publish-industry Verlag</TD> <TD> </TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailSubtitel VALIGN=TOP>Technik kommunizieren</TD> <TD> </TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailFirmaAdresse VALIGN=TOP>Nymphenburger Straße 86<BR> 80636 München<BR> Deutschland<BR> Tel: +49-89-500 383 0<BR> Fax: +49-89-500 383 10<BR> Email: info@publish-industry.net<BR> URL: http://www.publish-industry.net</TD> <TD> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD ALIGN=RIGHT VALIGN=TOP> <TABLE WIDTH=191 CELLPADDING=5 CELLSPACING=0 BORDER=0> <TR> <TD BGCOLOR=#ffffff ALIGN=CENTER><IMG alt=Firmen-Logo src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/company-resources/publishindustryverlag_491339162.gif"></TD> </TR> </TABLE> </TD> </TR> </TABLE> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>publish-industry Verlag GmbH :</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Inhalte TEST KOMPENDIUM Ausgabe 2004 - vollständig online verfügbar!</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Links zu allen Inhalten der Printausgabe vom 25. August 2003</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent><a name="Themen"></a><BR><p style="margin-left:220"><img src="http://www.publish-industry.net/images/TK_2004_200.jpg" alt="TEST KOMPENDIUM Ausgabe 2004" border="0" align="left" width="200" style="margin-left:-220">Wählen Sie eine Themenkategorie:<BR><a href="#Richtlinien, Normen & Standards">Richtlinien, Normen & Standards</a><BR><a href="#Management">Management</a><BR><a href="#Allgemeine Messtechnik">Allgemeine Messtechnik</a><BR><a href="#HF-Messtechnik">HF-Messtechnik</a><BR><a href="#EMV-Messtechnik">EMV-Messtechnik</a><BR><a href="#Mobilfunkmesstechnik, Wireless">Mobilfunkmesstechnik, Wireless</a><BR><a href="#Kommunikationsmesstechnik">Kommunikationsmesstechnik</a><BR><a href="#Optische Messtechnik">Optische Messtechnik</a><BR><a href="#Bus-Testsysteme entfällt ">Bus-Testsysteme entfällt </a><BR><a href="#Testsysteme zur Bauelementeprüfung">Testsysteme zur Bauelementeprüfung</a><BR><a href="#Testsysteme für Baugruppen und Hybride">Testsysteme für Baugruppen und Hybride</a><BR><a href="#Testsoftware">Testsoftware</a><BR><a href="#Automatisierte Testsysteme (ATE)">Automatisierte Testsysteme (ATE)</a><BR><a href="#Inspektion und Bildverarbeitung (AOI)">Inspektion und Bildverarbeitung (AOI)</a><BR><a href="#Installation und Instandhaltung">Installation und Instandhaltung</a><BR><a href="#Messtechnikzubehör">Messtechnikzubehör</a><BR><a href="#Wo testen? - Test- /Prüfdienstleister, Kalibrierlabore stellen sich vor">Wo testen? - Test- /Prüfdienstleister, Kalibrierlabore stellen sich vor</a></p><br clear=all><BR><br><BR> <br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Grundlagen & Neue Technologien"></a><font size="2"><b>Grundlagen & Neue Technologien</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Agilent Technologies</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0101 "> Fetz, B: "Jitter und die neue digitale Ordnung"</a><br>Ermittlung der Bitfehlerrate mittels BER-Messungen<br><BR>Fachbeitrag von <b>S.E.A. Datentechnik</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0102 "> Leibner, T: "Der Einsatz modellbasierter Simulation in modernen Testsystemen"</a><br>Kopplung von Softwaresimulation und realer Hardware<br><BR>Fachbeitrag von <b>austriamicrosystems</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0103 "> Mayerhofer, M: "ESD-Tests auf System- und Kompenentenebene"</a><br>Warum Systemleveltests an Komponenten versagen<br><BR>Fachbeitrag von <b>ITOCHU SYSTECH</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0104 "> Opfer, B: "Einführung von zusätzlichen Diodenmessungen in Reversrichtung als Standardtest"</a><br>Erhöhung der Testabdeckung ohne zusätzliche Hard-und Software sowie geringen Erhöhung der Testzeit<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Richtlinien, Normen & Standards"></a><font size="2"><b>Richtlinien, Normen & Standards</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>ROHDE & SCHWARZ</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0201 "> Willam, D: "Wireless-LAN-Standards"</a><br>Wichtige Testgrößen und Testverfahren<br><BR>Fachbeitrag von <b>Universität Karlsruhe</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0202 "> Glöser, K: "Realitätsnahe ESD-Prüfverfahren"</a><br>ESD-Modellbildung unter Berücksichtigung der Erdanbindung des Prüflings <br><BR>Fachbeitrag von <b>ARC SEIBERSDORF RESEARCH</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0204 "> Lamedschwandner, D: "SAR-Anforderungen an tragbare Funksendegeräte in Europa und USA"</a><br>Schutz der Gesundheit des Benutzers als gesetzliche Forderung<br><BR>Fachbeitrag von <b>CETECOM</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0203 "> Susko, D: "Validierung von Testsystemen"</a><br>Qualitätssicherung durch Validierung der Simulatoren für Konformitätstests<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Management"></a><font size="2"><b>Management</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>PHOENIX TEST-LAB</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0301 "> Fuchs, P: "Planung der ‚EMV-TESTs’ auf Komponenten- und Systemebene"</a><br>EMV-Prüfplanung und -Tests aus Sicht eines akkreditierten Dienstleisters <br><BR>Fachbeitrag von <b>CETECOM</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0302 "> Fischer (M.A.), C: "Datenbankgestützte Testsystemverwaltung "</a><br>Modernes Projektmanagement spart Kosten in der Produktentwicklung und verkürzt die Time-to-Market<br><BR>Fachbeitrag von <b>SPEA </b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0303 "> Witt, M: "Prozessqualifikation und Testzeitreduzierung"</a><br>Online-Überwachung und Optimierung des Fertigungsprozesses auf Grundlage gezielter Datenauswertung und selektiver Tests<br><BR>Fachbeitrag von <b>Rood Technology</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4A0304 "> Klein, P: "Wiederverwendung modularer Testblöcke im IC-Test"</a><br>Innovatives Software-Engineering erlaubt effektivere IC-Testprogrammerstellung<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Allgemeine Messtechnik"></a><font size="2"><b>Allgemeine Messtechnik</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Tektronix Europe</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0101 "> Fleischheuer, H: "Jitter-Messung mit Hilfe der Frequenzanalyse"</a><br>Vorhersage der Bitfehlerrate eines Systems<br><BR>Fachbeitrag von <b>Signaltec</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0103 "> Bezold, H: "Breitbandige und präzise Stromwandler"</a><br>Leistungselektronik und Antriebstechnik erfordern Messwandler höchster Genauigkeit<br><BR>Fachbeitrag von <b>LeCroy Europe</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0104 "> Lauterbach, Dr. M: "Wege zur Analyse von seriellen Datenströmen"</a><br>Messverfahren mit softwaregestützter Taktwiedergewinnung und langer Datenerfassung erhöht Messgenauigkeit<br><BR>Fachbeitrag von <b>Heraeus Holding</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0105 "> Gehlert, B: "Empfindliche Kontaktwiderstandsmessung"</a><br>Erfassung dünner Fremdschichten an Kontaktteilen<br><BR>Fachbeitrag von <b>YOKOGAWA-nbn</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0102 "> Hüfner, G: "Mehrkanalige Digitalspeicheroszilloskope für komplexe Anwendungen"</a><br>Optimales Troubleshooting mit vielkanaligen DSOs<br><BR>Fachbeitrag von <b>Data Translation</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0106 "> Klass, W: "USB in der PC-Messtechnik"</a><br>Breites Produktspektrum verfügbar<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="HF-Messtechnik"></a><font size="2"><b>HF-Messtechnik</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Agilent Technologies</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0201 "> Dahlmeyer, D: "Messung elektrisch langer Objekte mit einem Netzwerkanalysator "</a><br>Bessere Messergebnisse durch kleinere Frequenzverschiebung <br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="EMV-Messtechnik"></a><font size="2"><b>EMV-Messtechnik</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>ARC SEIBERSDORF RESEARCH</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0301 "> Kriz, A: "Messtechnische Untersuchung des Einflusses der Erdung von CISPR-25-Emissionsplätzen"</a><br>Vorgeschlagenes Messverfahren zeigt gute Reproduzierbarkeit<br><BR>Fachbeitrag von <b>bedea</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0302 "> Mund, B: "EMV von Steckverbindern und Anschlussschnüren"</a><br>Messung der Schirmwirkung für die Kommunikationstechnik mit dem ‚Tube in Tube'-Verfahren<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Mobilfunkmesstechnik, Wireless"></a><font size="2"><b>Mobilfunkmesstechnik, Wireless</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>ROHDE & SCHWARZ</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0401 "> Schmitt, H: "AM/AM-und AM/PM- Messungen mit Hilfe digital modulierter Signale"</a><br>Messverfahren zur Bestimmung wichtiger Parameter unter Betriebsbedingungen<br><BR>Fachbeitrag von <b>Willtek Communications</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0402 "> Grolman, A: "Handys spektral gesehen"</a><br>Abgleich eines I/Q-Modulators mit Hilfe der Spektralanalyse<br><BR>Fachbeitrag von <b>ROHDE & SCHWARZ</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0403 "> Banerjee, Dr. M: "Größtmögliche Dynamik für WCDMA-/3GPP-Signale"</a><br>Vorteile durch verbesserte ACLR des Generators <br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Kommunikationsmesstechnik"></a><font size="2"><b>Kommunikationsmesstechnik</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Agilent Technologies</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0501 "> Ferguson, S: "Debugging von SPI-4.2-Bussystemen"</a><br>Überlegungen zum Design und Test von SPI-4.2-Systemen<br><BR>Fachbeitrag von <b>ROHDE & SCHWARZ</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0502 "> Lauterjung, J: "Mobilempfang von DVB-T-Signalen mit Diversity-Empfängern"</a><br>Labortests liefern realistisches Bild der Empfangsbedingungen<br><BR>Fachbeitrag von <b>ACTERNA DEUTSCHLAND</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0503 "> Kaufmann, A: "Prüfen G.709-gemäßer FEC-Implementierungen"</a><br>Sicherstellung korrekter FEC-Funktionalität<br><BR>Fachbeitrag von <b>EMCO ELEKTRONIK</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0504 "> Waser, D: "Phasenrauschmessungen von gepulsten CW-Signalen"</a><br>Phasenrauschmessung mit der Quadratur-PLL-Methode<br><BR>Fachbeitrag von <b>VSYSTEMS Electronic</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0505 "> Schrank, O: "Mehr Produktivität in der Systementwicklung durch PCI-X- & PCI-Bus-Analyzer"</a><br>Einblicke in typische Probleme bei der Entwicklung von PCI-X-, PCI-, PMC- oder cPCI-Systemen<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Optische Messtechnik"></a><font size="2"><b>Optische Messtechnik</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Siemens -</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0601 "> Pompe, Dr. G: "Charakterisierung von DWDM und anderen passiven optischen Komponenten"</a><br>Automatisches Monitoring im C-und L-Band<br><BR>Fachbeitrag von <b>DIAMOND</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0602 "> Caloz, Dr. F: "Montage- und Messtechnologie für faseroptische polarisationshaltende Komponenten"</a><br>Aktive Orientierung und Messung der optischen Eigenschaften von faseroptischen polarisationshaltenden Komponenten<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Bus-Testsysteme entfällt "></a><font size="2"><b>Bus-Testsysteme entfällt </b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>SYNATRON</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0701 "> Klein, W: "Angewandte Simulation von verlustbehafteten digitalen Übertragungsleitungen"</a><br>Vor- und Nachteile verfügbarer Methoden<br><BR>Fachbeitrag von <b>Telelogic Deutschland</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0702 "> Stücka, R: "Automatisierter Test von verteilten Systemen basierend auf CAN oder MOST"</a><br>Umfassende Tests in kürzerer Zeit bringen reproduzierbare Resultate<br><BR>Fachbeitrag von <b>dSPACE </b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0703 "> Lamberg, Dr. M: "Modellbasiertes, automatisiertes Testen mechatronischer Regelungssysteme"</a><br>Durchgängiges Testen während des gesamten Entwicklungsprozesses<br><BR>Fachbeitrag von <b>National Instruments</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4B0704 "> Jamal, R: "Design-begleitendes Messen "</a><br>Nahtloser Übergang von Simulation bzw. Modellbildung zum Testen<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Testsysteme zur Bauelementeprüfung"></a><font size="2"><b>Testsysteme zur Bauelementeprüfung</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Keithley Instruments</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0101 "> Cimino, C: "Testmöglichkeiten für aktive Elemente moderner Flachbildschirme"</a><br>Testsysteme für die LCD-,OLED- und LEP-Anwendungen<br><BR>Fachbeitrag von <b>KRIWAN Testzentrum</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0102 "> Willging, Dr. C: "Vollautomatische Messung von PTC-Temperatursensoren"</a><br>Kostengünstige Ermittlung von Serienstreuungen zur Qualitätssicherung<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Testsysteme für Baugruppen und Hybride"></a><font size="2"><b>Testsysteme für Baugruppen und Hybride</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>ITOCHU SYSTECH</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0201 "> Opfer, B: "Kombinierter Flying-Probe / Boundary-Scan-Test"</a><br>Automatische Filterung redundanter Testschritte reduziert Testkosten<br><BR>Fachbeitrag von <b>0</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0202 "> Nitsch, F.: "Verdrahtungs- und Funktionstest elektronischer Systeme von Fahrzeugen</a><br>Vorprogrammiertes Testsystem für Klein- und Serienproduktion<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Testsoftware"></a><font size="2"><b>Testsoftware</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Credence Systems Corporation</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0301 "> Lam, H: "Anforderungen an Testwerkzeuge der nächsten Generation"</a><br>ATE-Plattform-neutrale, zyklische Timing- und Pattern-Daten sind Voraussetzung zur Bewältigung aktueller Designs<br><BR>Fachbeitrag von <b>Mentor Graphics </b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0302 "> Aldrich, G: "Kostenkontrolle beim IC-Produktionstest"</a><br>Design-for-Test-Methodik für Nanometer-Prozesstechnologien<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Automatisierte Testsysteme (ATE)"></a><font size="2"><b>Automatisierte Testsysteme (ATE)</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Credence Systems Corporation</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0401 "> Kondrat, M: "Verbesserter ‚Design-to-Test’-Ablauf"</a><br>Reduktion von Entwicklungs- und Produktionskosten durch neue Testabfolge<br><BR>Fachbeitrag von <b>ic-automation</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0402 "> Becker, Dr. S: "Testhandling von Mikrosystemen und Sensoren"</a><br>Flexibler Testhandler ersetzt Individuallösungen zum Funktionstest von Mikrosystemen <br><BR>Fachbeitrag von <b>Advantest</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0403 "> Palme, J: "Innovative Display-Technologie erfordert neue Testtechnik"</a><br>Test von Treiberbausteinen für OLED-Displays<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Inspektion und Bildverarbeitung (AOI)"></a><font size="2"><b>Inspektion und Bildverarbeitung (AOI)</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Teradyne</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0501 "> Arena, J: "Einsatz kognitiver Inspektionsverfahren in der Elektronikfertigung"</a><br>Zuverlässige Testergebnisse durch neue Erkennungstechnologien<br><BR>Fachbeitrag von <b>Prüftechnik Schneider & Koch</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0502 "> Block, R: "Hohe Prüftiefe durch Testkombination"</a><br>Integriertes System für Test und Reparatur<br><BR>Fachbeitrag von <b>FRT</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0504 "> Fries, Dr. T: "BGA- und Lötpunktvermessung"</a><br>Messung von Struktur, Höhe und Ebenheit bei BGAs und Lötpunkten<br><BR>Fachbeitrag von <b>bi-ber Bilderkennungssysteme</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0505 "> Wöhrle, T: "3D-Inspektion von BGAs"</a><br>Optische Prüfung von BGAs in der Fertigung<br><BR>Fachbeitrag von <b>GÖPEL electronic</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0503 "> Kokott, J: "Untersuchungen zum Einsatz von AOI-Systemen für die Lötstellenprüfung an bleifrei gelöteten Bauelementen"</a><br>Sicheres Testen mittels PARL-Algorithmus<br><BR>Fachbeitrag von <b>COGNEX Germany, Inc.</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0506 "> Weiss, K: "Flexible Bildverarbeitung mit hoher Prüftiefe"</a><br>Prozessintegrierte Qualitätskontrolle von Displays <br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Installation und Instandhaltung"></a><font size="2"><b>Installation und Instandhaltung</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Trebing & Himstedt</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0601 "> Stiller, L: "Diagnose und Analyse von Feldbusnetzen"</a><br>Diagnosesoftware zur Unterstützung der Inbetriebnahme und Wartung von Profibus-Netzen<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Messtechnikzubehör"></a><font size="2"><b>Messtechnikzubehör</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>LEM Deutschland</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK4C0701 "> Teppan, W: "Durchgehende Schirmung vom Messwiderstand zum Messgerät"</a><br>Planar-Shunt mit hoher Bandbreite<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Wo testen? - Test- /Prüfdienstleister, Kalibrierlabore stellen sich vor"></a><a name="Testprofile"></a><font size="2"><b>Wo testen? - Test- /Prüfdienstleister, Kalibrierlabore stellen sich vor</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/ARCSeibersdorf.pdf" target="_blank"> ARC SEIBERSDORF RESEARCH GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Cecert.pdf" target="_blank"> CEcert GmbH EMC, Safety, Environmental Tests</a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Cetecom.pdf" target="_blank"> CETECOM GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Conformitas.pdf" target="_blank"> Conformitas Ing. Büro Dr. Metzger </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/CtiCooperative.pdf" target="_blank"> CTI-Cooperative Testing Institute </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Diamond.pdf" target="_blank"> DIAMOND GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/DiehlAvionikSystem.pdf" target="_blank"> DIEHL Avionik Systeme GmbH EMV-Zentrum </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/EmccDrRasek.pdf" target="_blank"> EMCC DR. RASEK </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Emce.pdf" target="_blank"> EMCE GmbH Ing.Büro für EMV-Prüfungen </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/EmcTestHausDrSchreib.pdf" target="_blank"> EMC TESTHAUS DR. SCHREIBER GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/EmTest.pdf" target="_blank"> EM TEST GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/EmvServices.pdf" target="_blank"> EMV SERVICES GmbH & Co. KG </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/EmvTesthaus.pdf" target="_blank"> EMV Testhaus GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/EpcosDeutschland.pdf" target="_blank"> EPCOS AG Electronic Parts & Components </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/FujitsuSiemensPaderb.pdf" target="_blank"> Fujitsu Siemens Computers Beratungs-, Lösungs- & Prüfzentrum Paderborn</a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Lucent.pdf" target="_blank"> Lucent Technologies </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/IABG.pdf" target="_blank"> IABG mbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Imst.pdf" target="_blank"> IMST GmbH Prüfzentrum </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/ItsIntertekTestLeinf.pdf" target="_blank"> Intertek Deutschland GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/KraussMaffeiWegman.pdf" target="_blank"> Krauss-Maffei Wegmann GmbH & Co. KG </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/KriwanTestzentren.pdf" target="_blank"> KRIWAN Testzentrum GmbH &Co.KG </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/LgaLandesgewerbe.pdf" target="_blank"> LGA Prüfen und Zertifizieren </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/MikesBabt.pdf" target="_blank"> MIKES BABT Product Service GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Mooser.pdf" target="_blank"> Mooser Consulting GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Murrelelektronik.pdf" target="_blank"> Murrelektronik GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Nemko.pdf" target="_blank"> NEMKO GmbH & Co. KG </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/NKL.pdf" target="_blank"> NKL GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/PhoenixTestLab.pdf" target="_blank"> PHOENIX TESTLAB GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/PlgAgCeConform.pdf" target="_blank"> PLG AG - CE-Conform </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/RSSchwarzeElektrotec.pdf" target="_blank"> RS Schwarze Elektrotechnik Moderne Industrie- elektronik GmbH</a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SchaffnerBerlin.pdf" target="_blank"> Schaffner Electrotest GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Schmitz.pdf" target="_blank"> J. Schmitz GmbH Technologiezentrum </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Senton.pdf" target="_blank"> Senton GmbH EMV-Prüfzentrum </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SercoBonn.pdf" target="_blank"> Serco GmbH & Co. KG EMV-Zentrum Bonn </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SiemensAundD_ATS_Erl.pdf" target="_blank"> Siemens AG, A&D ATS EMV-Zentrum Erlangen </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SiemensAundD_ATS_Kar.pdf" target="_blank"> Siemens AG, A&D ATS Typrüfzentrum Karlsruhe </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SiemensICN_QE_Muc.pdf" target="_blank"> Siemens AG-Quality Engineering Center for Quality Engineering </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SiemensIundS_IS_Erl.pdf" target="_blank"> Siemens AG, I&S IS </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SLG.pdf" target="_blank"> SLG Prüf- und Zertifizierungs GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Spektra.pdf" target="_blank"> SPEKTRA Schwingungst.+ Akustik </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/SystemsEngineering.pdf" target="_blank"> Systems Engineering GmbH & Co. KG DKD-K-13301</a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/TUVRheinlandSicherhe.pdf" target="_blank"> TÜV Rheinland Product Safety GmbH EMV-Testzentrum</a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/Zamm.pdf" target="_blank"> ZAMM GmbH </a><br><BR>Firmenvorstellung <b></b><br><a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/testk2004/ZeissOptronik.pdf" target="_blank"> Zeiss Optronik GmbH </a><br></font></p></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>