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<H1>www.duv24.net : TEST KOMPENDIUM 2002 - vollständig online verfügbar</H1>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>TEST KOMPENDIUM 2002 - vollständig online verfügbar</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Links zu allen Inhalten der Printausgabe vom 24. September 2001</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailContent><a name="Themen"></a><BR><p style="margin-left:220"><img src="http://www.publish-industry.net/images/TESTK_02_200mal280.jpg" alt="TEST KOMPENDIUM 2002" border="0" align="left" style="margin-left:-220">Wählen Sie aus einer der folgenden Rubriken:<br><BR><a href="#A01">Grundlagen & Neue Technologien</a><BR><a href="#A02">Fokusthema: Bluetooth</a><BR><a href="#A03">Richtlinien, Normen & Standards</a><BR><a href="#A04">Qualitätssicherung</a><BR><a href="#A05">Management</a><BR><a href="#B01">Allgemeine Messtechnik</a><BR><a href="#B02">HF-Messtechnik</a><BR><a href="#B03">EMV-Messtechnik</a><BR><a href="#B04">Optische Messtechnik</a><BR><a href="#B05">Akustische Messtechnik</a><BR><a href="#B06">Kommunikationsmesstechnik</a><BR><a href="#B07">Fernseh-/Rundfunkmesstechnik</a><BR><a href="#B08">Sensorik</a><BR><a href="#B09">Rechnergestützte Messtechnik</a><BR><a href="#B10">Testsysteme</a></p><br clear=all><BR><BR><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')"><img src="http://www.publish-industry.net/images/order_abo.gif" width="176" height="44" border="0" align="right"><br clear=all><BR><BR> <a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=A01><font size="2"><b>Grundlagen & Neue Technologien</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Tektronix</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0101"> <font color="#0000FF">Fleischheuer, H.-P.: 'Präzise Jitter-Analysen'</a><br></font>Hohe Taktraten und enge Timing-Granzwerte erfordern leistungsfähige Jitter-Messungen<br><br>Fachbeitrag von <b>Rohde & Schwarz</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0102"> <font color="#0000FF">Grunwald, Sigmar: 'Fading'</a><br></font>Kanalsimulation bei DVB<br><br>Fachbeitrag von <b>FH Hannover</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0103"> <font color="#0000FF">Stolle, Prof. Dr.-Ing. Dieter: ' Hochspannungsmessung mit optischem Verfahren'</a><br></font>Nichtkonventionelle Messung hoher Spannung im Prüffeld<br><br>Fachbeitrag von <b>Ling Dynamic Systems</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0104"> <font color="#0000FF">Boller, Holger: ' Mechanisch-dynamische Zuverlässigkeitsuntersuchungen'</a><br></font>Effektive und fehlersichere Prüfungen für elektronische Baugruppen<br><br>Fachbeitrag von <b>Acea</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0105"> <font color="#0000FF">Pieper, John: ' ATE-Systeme, Kompatibilität und Standardisierung'</a><br></font>Viele unterschiedliche Ansätze erschweren Vereinfachung in Entwicklung und Applikation<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=A02><font size="2"><b>Fokusthema: Bluetooth</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Rohde & Schwarz</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0201"> <font color="#0000FF">Riedel, Peter: ' Tests für Bluetooth-Protokolle'</a><br></font>Sicherstellung von Standards in Entwicklung und Zertifizierung<br><br>Fachbeitrag von <b>Ets Dr. Genz</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0202"> <font color="#0000FF">Damm, Kurt: ' Bluetooth-Qualifikationsprozess und Marktzugang'</a><br></font>Die erforderlichen Test-, Qualifizierungs- und Zertifizierungsprozeduren<br><br>Fachbeitrag von <b>Cetecom ICT Services GmbH</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0203"> <font color="#0000FF">Richter, Wolfgang: ' EMV-Test für störungsfreie Bluetooth-Anwendungen'</a><br></font>Verträglichkeit von Bluetooth-Produkten<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=A03><font size="2"><b>Richtlinien, Normen & Standards</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Phoenix Test-Lab</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0301"> <font color="#0000FF">Selck, Bernd Arthur: ' CE- und e-Kennzeichnung von Fernsprecheinrichtungen'</a><br></font>Mobil im Fahrzeug telefonieren unter Beachtung der Straßenverkehrsordnung<br><br>Fachbeitrag von <b>Mikes Babt</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0303"> <font color="#0000FF">Buchwald, Harald: ' EMV in der Medizintechnik - Der neue kollaterale Standard'</a><br></font>Vorstellung der zweiten Ausgabe des kollateralen Standards für EMV: EN 6061-1-2<br><br>Fachbeitrag von <b>Cetecom</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0302"> <font color="#0000FF">Stolle, Jörg: ' Testfallselektion bei GSM-Konformitätstests'</a><br></font>PICSs als wichtige Auswahlkriterien für notwendige Konformitätstestszenarien<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=A04><font size="2"><b>Qualitätssicherung</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Kriwan Testzentrum</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0401"> <font color="#0000FF">Endres, Dietmar: ' Automatisierte Softwareprüfung'</a><br></font>Hardware in the Loop - Umsetzung der Theorie in die Praxis<br><br>Fachbeitrag von <b>SPEA</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0402"> <font color="#0000FF">Schneeweiss, Frank: ' Effizientes Qualitätsmanagement und Prozessoptimierung'</a><br></font>Qualitätsmanagement in der heutigen Praxis<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=A05><font size="2"><b>Management</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>TestoCAL</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0501"> <font color="#0000FF">Föhrenbacher, Raimund: ' Prüfmittelmanagement'</a><br></font>Vergabe an eigene Abteilungen oder außer Haus?<br><br>Fachbeitrag von <b>RAe Brandi Dröge Piltz Heuer & Gronemeyer</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2A0502"> <font color="#0000FF">Klindt, Dr. Thomas: ' Haftungsrisiken für Prüfstellen beim GS-Zeichen'</a><br></font>Rechte und Pflichten für Hersteller und Zertifizierer<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B01><font size="2"><b>Allgemeine Messtechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Siemens ICN</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0101"> <font color="#0000FF">Steinhäuser, Lothar: ' Reduktion von nutzlosem Leerlaufstrom'</a><br></font>Messung der Stand-by-Leistungsaufnahme von Stromversorgungen unter 10 W<br><br>Fachbeitrag von <b>leCroy</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0102"> <font color="#0000FF">Sekel, Steve: ' Komplette Leistungsmessungen mit digitalen Oszilloskopen'</a><br></font>Testsysteme für alle Messungen bei der Entwicklung von Schaltnetzteilen<br><br>Fachbeitrag von <b>Gossen-Metrawatt</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0103"> <font color="#0000FF">Thomas, Willi: ' Messkategorie 'CAT.IV' gegen Elektrogefahren'</a><br></font>Mit 'CAT.IV' gekennzeichnete Multimeter bieten Messtechnikern noch mehr Sicherheit<br><br>Fachbeitrag von <b>Spektra</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0104"> <font color="#0000FF">Bühn, Uwe: ' Effektivitätssteigerung bei Kalibrierprozessen'</a><br></font>Höhere Effektivität und Genauigkeit in der Schwingungstechnnik<br><br>Fachbeitrag von <b>Testo</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0105"> <font color="#0000FF">Demisch, Hans-Ulrich: ' Rückführbare Kalibrierung von Oberflächenthermometern'</a><br></font>Berücksichtigung der Ist-Wertveränderung durch das Messmittel<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B02><font size="2"><b>HF-Messtechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Helzel Messtechnik</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0201"> <font color="#0000FF">Helzel, T.: ' Messung der Linearität von HF-Messkomponenten'</a><br></font>Beurteilung der dynamischen Eigenschaften<br><br>Fachbeitrag von <b>Cetecom ICT</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0202"> <font color="#0000FF">Rebmann, Bernd: ' TCO'01 - Ein neues Gütesiegel für Handys?'</a><br></font>Messtechnische Charakterisierung des Emissionsverhaltens<br><br>Fachbeitrag von <b>emv GmbH</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0203"> <font color="#0000FF">Linberg, Klaus: ' Tests für Handy-Basisstationen'</a><br></font>Effiziente Messung von Intermodulation an passiven Bauteilen<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B03><font size="2"><b>EMV-Messtechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Sinus Electronic</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0301"> <font color="#0000FF">Senghaas, Hans: ' Energie-Absorptions-Messung'</a><br></font>Zuverlässige Messmethode für die periodische Sicherheitsüberprüfung von kombinierten Überspannungs-Schutzschaltungen<br><br>Fachbeitrag von <b>SAT Service Schneider</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0302"> <font color="#0000FF">Schneider, Ulf: ' Plausibilität von Feldstärkemessverfahren mit nicht isotropen Messsonden'</a><br></font>Alternative zum isotropen Messverfahren<br><br>Fachbeitrag von <b>EMCtech</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0303"> <font color="#0000FF">Reinhardt, Uwe: ' Optische Übertragungsstrecken für EMV-Messungen'</a><br></font>Neue optische Übertragungsstrecke zur rückwirkungsarmen Überwachung schneller Signale<br><br>Fachbeitrag von <b>Elstatik</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0304"> <font color="#0000FF">Lüttgens, Günter: ' ESD-Schutz - Know-how zur Realisierung'</a><br></font>Eckdaten und Maßnahmen für Messung und Vorsorge<br><br>Fachbeitrag von <b>Mikes Babt</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0305"> <font color="#0000FF">Weise, Thomas: ' SAR - Specific Absorption Rate'</a><br></font>Messung und Bewertung von Wirkungen elektromagnetischer Felder auf den menschlichen Körper<br><br>Fachbeitrag von <b>Montena</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0306"> <font color="#0000FF">Daout, Bertrand: ' Schutz der Bevölkerung vor nichtionisierender Strahlung'</a><br></font>Messung elektromagnetischer Felder von GSM-Basisstationen<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B04><font size="2"><b>Optische Messtechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Siemens ICN</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0401"> <font color="#0000FF">Krokisius, Rainer: ' Dämpfung in LWL-Krümmungen'</a><br></font>Ermittlung des kleinsten praktikablen Radius'<br><br>Fachbeitrag von <b>Acterna</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0402"> <font color="#0000FF">Bach, Roland: ' Optisches Q-Faktor-Messgerät'</a><br></font>Zuverlässige Ermittlung der Bitfehlerrate optischer Übertragungsstrecken<br><br>Fachbeitrag von <b>Agilent</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0403"> <font color="#0000FF">Stolze, Gunnar: ' Charakterisierung passiver optischer Komponenten für DWDM-Anwendungen'</a><br></font>Grundlagen und Verfahren zur exakten uns schnellen Bestimmung von Einflussgrößen<br><br>Fachbeitrag von <b>Agilent</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0404"> <font color="#0000FF">Wagemann, Ulrich: ' Test moderner DWDM-Komponenten'</a><br></font>Messsysteme zur Bestimmung der Laser-Wellenlängen<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B05><font size="2"><b>Akustische Messtechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Keithley Instruments</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0501"> <font color="#0000FF">Fasnacht, Glenn: ' Hochgenaue Audio-Messungen'</a><br></font>Zeiteffektive Messungen mit mit abgestimmten Gesamtsystemen<br><br>Fachbeitrag von <b>Caesar Datensysteme</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0502"> <font color="#0000FF">Hachmeister, Joachim: ' Neuartiges Telemetriesystem für Akustikmessungen an Fahrzeugen'</a><br></font>Echtzeit-Verknüpfung von Messdaten aus dem Fahrzeug mit denen im Umfeld<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B06><font size="2"><b>Kommunikationsmesstechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Rohde & Schwarz</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0601"> <font color="#0000FF">Hatzold, Peter: ' Erzeugung und Vektorsignal-Analyse von EDGE-Signalen'</a><br></font>Messung des Fehlervektors und Beurteilung der Modulationsqualität durch die Error Vector Magnitude (EVM)<br><br>Fachbeitrag von <b>ARC Seibersdorf</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0602"> <font color="#0000FF">Lamedschwandner, Kurt: ' Messfahrzeuge für die Netzüberwachung'</a><br></font>Optimierung von Antennenanordnugen auf Feldstärkemessfahrzeugen<br><br>Fachbeitrag von <b>Cetecom ICT</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0603"> <font color="#0000FF">Dickmann, Norbert: ' Digitale Messtechnik für Kommunikationsnetze'</a><br></font>Digitale Messtechnik, über jeden Zweifel erhaben?<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B07><font size="2"><b>Fernseh-/Rundfunkmesstechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Noffz Computertechnik</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0701"> <font color="#0000FF">Noffz, Wilfried: ' Prüfung von DVD-Modulen'</a><br></font>Universell einsetzbares Test- und Prüfsystem<br><br>Fachbeitrag von <b>Rohde & Schwarz</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0702"> <font color="#0000FF">Lauterjung, J.: ' Testbett für mobile DVB-T-Empfänger'</a><br></font>Messsystem mit Nachbildung wirklichkeitsnaher Szenarien<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B08><font size="2"><b>Sensorik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Agilent</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0801"> <font color="#0000FF">Dahlmeyer, Dieter: ' Leistungsmessungen an drahtlosen Signalen mit komplexer Modulation'</a><br></font>Sensortechnologie - ein Schlüssel zu Genauigkeit und Wiederholbarkeit<br><br>Fachbeitrag von <b>FH Aschaffenburg</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0802"> <font color="#0000FF">Huth, Armin: ' Aktive Universalfilter verbessern verrauschte Sensorsignale'</a><br></font>Design und Aufbau eines 80-Hz-Bessel-Tiefpasses mit integrierten Filter-ICs<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B09><font size="2"><b>Rechnergestützte Messtechnik</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>AMS / Flöha</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0901"> <font color="#0000FF">Sünder, Bernhard: ' Messtechnik nutzt das Inter-/Intranet'</a><br></font>Java-Client-Software für Analyse und Visualisierung von messtechnischen Daten<br><br>Fachbeitrag von <b>National Instruments</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B0902"> <font color="#0000FF">Jamal, Rahman: ' Von Produkten über Applikationen zu Lösungen'</a><br></font>Eine durchgängige Plattform für komplexe Applikationen<br><br></font></p><a href="#Themen"><img src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name=B10><font size="2"><b>Testsysteme</b></font></a><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Goepel</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B1001"> <font color="#0000FF">Tietze, Herbert: ' Boundary Scan in der Designphase, der Fertigung und im Serviceeinsatz'</a><br></font>Sinnvolle Anwendung des Testverfahrens<br><br>Fachbeitrag von <b>Yokogawa</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B1002"> <font color="#0000FF">Hüfner, Günter: ' Logikanalyse mit dem DSO'</a><br></font>Funktionserweiterung für 'Mixed Signal'-Applikationen<br><br>Fachbeitrag von <b>ITOCHU</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B1003"> <font color="#0000FF">Opfer, Boris: ' Automatische Prüfprogrammgenerierung für Prüfsysteme'</a><br></font>Umstellung von manueller Generierung auf Net(z)Test-basiertes Verfahren<br><br>Fachbeitrag von <b>ET Testsysteme</b><br><a href="http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TK2B1004"> <font color="#0000FF">O´Raad, Edwin: ' Systematische Sicherheitsüberprüfung'</a><br></font>Ein System für alle sicherheitsrelevanten Tests<br><br></font></p></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P>
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