D&V TEST GUIDE

<BODY> <H1>www.duv24.net : D&V TEST GUIDE</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Anbieter > <B><FONT color="#FF9900">Produktseiten</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>16.09.2004</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top ID=topSpace COLSPAN=3> <TABLE CELLSPACING=0 CELLPADDING=0 BORDER=0 WIDTH=100%> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE CELLSPACING=0 CELLPADDING=0 BORDER=0 WIDTH=100%> <TR> <TD CLASS=detailTitel VALIGN=TOP>publish-industry Verlag</TD> <TD> </TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailSubtitel VALIGN=TOP>Technik kommunizieren</TD> <TD> </TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailFirmaAdresse VALIGN=TOP>Nymphenburger Straße 86<BR> 80636 München<BR> Deutschland<BR> Tel: +49-89-500 383 0<BR> Fax: +49-89-500 383 10<BR> Email: info@publish-industry.net<BR> URL: http://www.publish-industry.net</TD> <TD> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD ALIGN=RIGHT VALIGN=TOP> <TABLE WIDTH=191 CELLPADDING=5 CELLSPACING=0 BORDER=0> <TR> <TD BGCOLOR=#ffffff ALIGN=CENTER><IMG alt=Firmen-Logo src="http://www.publish-industry.net/publish-industry/company-resources/publishindustryverlag_491339162.gif"></TD> </TR> </TABLE> </TD> </TR> </TABLE> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>publish-industry:</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>D&V TEST GUIDE</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Links zu allen Inhalten der Printausgabe vom 16. September 2004</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent><BR><p style="margin-left:220"><img src="http://www.publish-industry.net/images/DVTEST_04_200.jpg" alt="D&V TEST GUIDE 2004/2005" border="0" align="left" width="200" style="margin-left:-220">Wählen Sie aus der Themübersicht:<BR><a href="#Automotive">Automotive</a><BR><a href="#HF- und EMV-Messtechnik">HF- und EMV-Messtechnik</a><BR><a href="#Mobile Communications & Wireless Designs">Mobile Communications & Wireless Designs</a><BR><a href="#Netzwerk- und Bussmesstechnik">Netzwerk- und Bussmesstechnik</a><BR><a href="#Prototypen-, Fertigungs- und Serientest">Prototypen-, Fertigungs- und Serientest</a></p><br clear=all><BR><BR> </font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Automotive"></a><font size="2"><b>Automotive</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Mercedes-Benz Technology</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01501 "> E. Sax, S. Schmerler: "Qualitätssteigerung in der KFZ-Steuergeräte-Entwicklung"</a><br>Durchgängiges, methoden- und technologieoptimiertes Testen als Schlüssel zur Qualitätssteigerung<br><BR>Fachbeitrag von <b>Teradyne</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01502 "> R: Gruber: "Schnelles Testsystem für parametrische Messungen"</a><br>Automotive- und Power-ICs intelligent testen<br><BR>Fachbeitrag von <b>Göpel electronic</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01503 "> M. Schneider: "Test der Netzwerkeigenschaften von Steuergeräten"</a><br>Voraussetzung für die Gewährleistung der Funktionssicherheit von CAN- und LIN-Bussystemen im Kraftfahrzeug<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="HF- und EMV-Messtechnik"></a><font size="2"><b>HF- und EMV-Messtechnik</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Langer EMV-Technik</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01504 "> G. Langer:"EMV für IC-Hersteller und IC-Anwender"</a><br>Messtechnik zur Ermittlung geeigneter IC-Parameter für Hersteller und Anwender<br><BR>Fachbeitrag von <b>Tektronix</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01505 "> D. Miles: "Analyse komplexer veränderlicher HF Signale"</a><br>Prinzipien und Eignung verfügbarer HF-Analysatorarchitekturen Heute besteht der Wunsch nach einer ne...<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Mobile Communications & Wireless Designs"></a><font size="2"><b>Mobile Communications & Wireless Designs</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Cetecom</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01506 "> D. Šuško: "3G-Konformitätstests für W-CDMA-Endgeräte"</a><br>Notwendige Labortests und Standards zur Einhaltung der Anforderungen der Europäischen Richtlinie (R&TTE)<br><BR>Fachbeitrag von <b>CETECOM ICT</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01507 "> W. Latz, A. Ehre: "Teststrategien für RFID-Lösungen"</a><br>Conformance- und Performance-Untersuchungen an induktiven bzw. mikrowellenbasierten RFID Lösungen<br><BR>Fachbeitrag von <b>Rohde & Schwarz</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01508 "> H. Eckert: "Messung nichtlinearer Verzerrungen"</a><br>Bestimmung von Verzerrungskennlinien und Kompressionsparametern mit einem Vektorsignalanalysator<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Netzwerk- und Bussmesstechnik"></a><font size="2"><b>Netzwerk- und Bussmesstechnik</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>Inat</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01509 "> N. Haid: Ist Protokollanalyse wirklich Expertensache?</a><br>Netzwerkanalyseund-wartung im industriellen Ethernet<br><BR>Fachbeitrag von <b>Agilent Technologies</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01510 "> A. Porter,P. Kasenbacher: "Signalintegritäts-Tests an Highspeed-Schnittstellen"</a><br>Messung und Interpretation von Augendiagrammen an Hochgeschwindigkeitsbussen<br><BR></font></p><br><br><a href="#Themen"><img src="http://www.duv24.net/publish-industry/standard-gfx/page_start.gif" alt="Zur Themenübersicht" border="0" align="right"></a><a name="Prototypen-, Fertigungs- und Serientest"></a><font size="2"><b>Prototypen-, Fertigungs- und Serientest</b></font><hr noshade size="1"> <p style="margin-left:20"><font size="1">Fachbeitrag von <b>SPEA</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01511 "> M. Witt: "Flying-Probe-Tester für die Serie"</a><br>Lösung für den Test von Prototypen bis zur hochvolumigen Serienfertigung<br><BR>Fachbeitrag von <b>Itochu SysTech</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01512 "> B. Opfer: "Zugriffssichere Kontaktstellen automatisch vergeben"</a><br>Schnellere Programmgenerierung und Reduzierung der Scheinfehler mittels "Probe Permission"<br><BR>Fachbeitrag von <b>Siemens</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01513 "> A. Vuksic, U. Winkler: "Genauigkeit und Bedeutung von Kapazitätsmessungen"</a><br>Zusammenhänge zwischen Genauigkeit der Kapazitätsmessungen und Testschärfe bei Netztests<br><BR>Fachbeitrag von <b>Reinhardt System- und Messelectronic</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01514 "> P. Reinhardt: "Designkonzepte zur Gewährleistung der Testbarkeit"</a><br>Design-Tipps für Baugruppenentwickler<br><BR>Fachbeitrag von <b>Keithley Instruments</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01515 "> A. Armutat: "Mehr Testeffektivität durch Instrumentenkoordination"</a><br>Integrierte Intelligenz und Programmierbarkeit moderner Source-Measure Units steigert den Testdurchsatz<br><BR>Fachbeitrag von <b>adaptronic Prüftechnik</b><br><a href="http://www.duv24.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?moreatclick=TEG01516 "> P. Müller: "Testsystem für den Schaltschrankfunktionstest"</a><br>Verdrahtungs- und Funktionstest von Schaltschränken und Baugruppen in einem Schritt<br></font></p></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:13 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>